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仲野 友英; 久保 博孝; 朝倉 伸幸; 清水 勝宏
AIP Conference Proceedings 1125, p.131 - 140, 2009/05
JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射される炭素イオンのスペクトル線強度を測定し、それらの強度比を衝突放射モデルによって解析した。X点MARFEが発生した場合では、Cはほぼ同じ割合でCの体積再結合とCの電離によって生成されることを明らかにした。またX点MARFEの発生に伴い、Cの発光の空間位置がX点と内側ストライク点の間からX点上へと移動するが、発光位置でのプラズマパラメータはほとんど変化しないことを明らかにした。
佐々木 明; 西原 功修*; 砂原 淳*; 古河 裕之*; 西川 亘*; 小池 文博*; 村田 真樹*
no journal, ,
次世代半導体リソグラフィ用EUV光源の開発において重要な、シミュレーションによる最適化を目的とする、Sn, Xeの原子データの計算や、原子過程モデルの構築の方法について述べる。EUV光源の発光特性を明らかにするためには、Sn, Xeイオンの主要な共鳴線の正確な波長を理論,実験的に求めることと、及びこれらのイオンが持つ非常に多くの多電子,多重励起状態のうちのどのような状態が発光に寄与するかを知ることが必要である。本報告では、データベース技術を、Sn, Xeイオンの原子状態の電子配置の情報をもとに発光特性の評価に重要な状態の組を求めるために利用し、原子モデルを系統的に変化させた収束計算を行って、プラズマの温度,密度に対する、価数,輻射輸送係数の値を決定した結果を示す。